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一、調(diào)查產(chǎn)品的外觀。
首先調(diào)查一下X2安規(guī)電容器,外表是不是很整齊、標(biāo)志是不是明晰,有沒有象印字不良、外觀不良的產(chǎn)品,電容器的引腳有沒有發(fā)黑氧化的現(xiàn)象。同時(shí)也需要看一下供應(yīng)商的出貨單,產(chǎn)品的規(guī)格型號(hào)、數(shù)量與什物是不是相符,有沒有必錯(cuò)貨、漏發(fā)貨等狀況。
二、抽測(cè)產(chǎn)品的尺度。
運(yùn)用游標(biāo)卡尺抽測(cè)幾個(gè)電容器,看它的實(shí)踐尺度大小是不是符合要求,產(chǎn)品的尺度是不是在答應(yīng)的差錯(cuò)范圍內(nèi)。
三、運(yùn)用LCR電橋丈量X2電容容量。
咱們需要運(yùn)用LCR電橋,來抽測(cè)幾個(gè)X2電容器,但它的電容容量是不是在答應(yīng)的差錯(cuò)范圍內(nèi),一般容量差錯(cuò)范圍是±10%。
四、運(yùn)用LCR電橋丈量X2電容D值。
1KHZ測(cè)驗(yàn)頻率,運(yùn)用LCR電容抽測(cè)X2電容器的D值,是不是在答應(yīng)范圍內(nèi),一般D<0.0002。
五、引出端間電壓測(cè)驗(yàn)。
用耐壓測(cè)驗(yàn)儀測(cè)驗(yàn),端間施加直流試驗(yàn)電壓4.3Ud.c.)+300VDC,漏電流設(shè)置R(為2m[**],歷時(shí)60S。試驗(yàn)期間應(yīng)不發(fā)生閃絡(luò)或長時(shí)間性擊穿。
六、絕緣電阻。
用HF2683絕緣電阻測(cè)驗(yàn)儀測(cè)驗(yàn),要求: 試驗(yàn)[**] CR>0.3μF, RC≥2000s; CR≤0.3μF, R≥6000ΜΩ。
一般狀況下,前四種是最重要的,后面兩種估量許多工廠都沒有這種測(cè)驗(yàn)儀器,如果時(shí)刻答應(yīng),合理進(jìn)行一段時(shí)刻的老化測(cè)驗(yàn),更容易把不合格的X2電容挑選出來。